高分子科学前沿 2026-11-07 14:25:51
针对这一挑战,中科院福建物质结构研究所刘伟研究员课题组提出气–固界面聚合策略,将单体扩散与链传播解耦,在Cu/CuOx表面生长准二维PPA单晶纳米带。该过程可能由表面配位辅助的苯乙炔活化与定向π堆叠驱动组装实现,从而抑制链缠结、促进结晶有序。所得PPA纳米带具有微米级尺寸、左旋顺式–反式螺旋链和长程结晶性;在理想完全伸展链模型下,几何估算分子量上限可达约3.7×109 g mol⁻¹。所得PPA纳米带表现出有效电荷传输,器件具备375至1550 nm宽带光探测能力,响应度30.1 A W⁻¹、探测率8.65×10¹² Jones,为克服共轭聚合物中分子量增长与结构有序之间的权衡提供了新途径。相关论文以“Surface-Coordinated Gas–Solid Polymerization Enables Quasi-2D Polyphenylacetylene Single-Crystalline Nanoribbons”为题,发表在Advanced Materials上。
研究首先建立了气/固界面合成与生长机制:铜箔经酸处理和轻度氧化形成表面Cu(I)/Cu(II)催化活性位点(图1a),气态苯乙炔在Cu表面吸附后,通过Cu(I)–乙炔化物中间体和Glaser型氧化偶联进行链传播(图1b),Cu(111)晶面及原子台阶引导链沿<001>方向生长,而相邻芳环间强π–π堆叠驱动垂直层状有序组装(图1b)。密度泛函理论计算表明,垂直链堆叠吸附能(−4.55 eV)显著低于水平链–基底相互作用(−2.82 eV),说明分子间π–π堆叠在层状结晶中占主导(图1e);无溶剂气相环境还减少了剪切力和扩散限制聚集等扰动,使聚合在表面受限条件下保持长程有序(图1b)。
图1 铜箔上准二维PPA单晶纳米带的气/固界面合成示意图。a PPA晶体生长过程示意图。b 提出的PPA晶体生长过程,包括Cu/CuOx辅助表面活化、表面氧化偶联及后续π–π堆叠组装。c Cu箔上PPA纳米带薄膜(1.5×1.5 cm)的照片和场发射扫描电子显微镜图像。比例尺:5 µm。d 有和无Cu(I)/Cu(II)催化剂时PPA单晶生长的自由能图。e 垂直和水平PPA链堆叠在Cu箔上的吸附能。
在形貌与结构表征中,所得PPA纳米带横向长度可达数百微米(图2a),厚度约23.8 nm且可在数纳米至数百纳米间调控(图2b);XPS确认其以碳为主并含少量Cu/O物种及共轭骨架特征(图2c),XRD显示14.8、9.4、7.2和4.9 Å的尖锐衍射峰,对应高度有序柱状四方结构(图2d),结构示意及Raman和UV–Vis结果支持伸展顺式–反式螺旋与共轭主链形成(图2f、2g;结构示意见图2e)。CD谱在407和465 nm显示强正信号、250–280 nm出现尖锐Cotton效应、304–388 nm负Cotton效应,验证左旋手性螺旋构象(图2h);纳米压痕测得硬度约155 MPa、杨氏模量约2.54 GPa,表明纳米带具有稳健机械稳定性(图2i)。
图2 准二维PPA单晶纳米带的结构表征。a 单个PPA纳米带的光学显微镜图像。比例尺:20 µm。b PPA纳米带的AFM图像和厚度分析。c PPA的C 1s和Cu 2p核心能级XPS谱。d 合成PPA纳米带的XRD图谱。e 具有伸展顺式–反式螺旋的四方PPA结构示意图。f 拉曼光谱。g PPA在乙醇中的紫外–可见吸收光谱。插图:通过拟合Tauc图外推线性区得到的PPA光学带隙Eg。h 圆二色光谱。i PPA单晶纳米带的力学表征。左:硬度–位移曲线。右:杨氏模量–位移曲线。
进一步通过冷冻TEM和SAED直接确认其单晶有序性:HRTEM可见沿纳米带轴约1.48 nm的清晰晶格条纹,三个独立纳米带的SAED均可重现尖锐离散衍射斑点(代表性图谱见图3a插图),且未见明显晶界、链折叠或结构缺陷(图3b)。HRTEM提取出约0.94 nm螺旋螺距和约13°堆积角,符合伸展顺式–反式螺旋骨架(图3c);结合XRD、UV–Vis和CD结果,研究提出PPA链采取左旋顺式–反式螺旋构象并沿b轴组装为侧立π–π堆叠柱(图3d)。基于约10 µm²代表性晶体区域,在完全伸展、理想无缺陷和完全填充假设下,理想化链长对应约7.2×10⁶个C₄₀H₃₀重复单元,几何估算分子量上限约3.7×10⁹ g mol⁻¹,该值应视为理想上限而非直接测量的绝对分子量。
图3 准二维PPA单晶纳米带的形貌和结构表征。a PPA纳米带的高分辨TEM图像。插图:SAED图谱。b、c 从a中提取的放大HRTEM图像。d 线性PPA链堆叠成准二维单晶纳米带的侧视图和俯视图示意图。
器件评价表明,PPA单晶为p型半导体,载流子迁移率0.41 cm² V⁻¹ s⁻¹;在柔性聚酰亚胺基底上制备的Au/PPA光电探测器具有0.52 eV肖特基势垒和稳定暗电流(图4a、4b),光照下光电流随光强单调增加并遵循幂律关系,5 V偏压、88.5 mW cm⁻²下最大光电流40.6 nA(图4c)。器件上升
减时间分别为0.5和1.1 ms,6个月后仍保持稳定,弯曲至90°时响应度和探测率分别保持初始值的85%和89%,30°弯曲1000次循环后光电流保持86%。在375–1550 nm范围器件均具清晰光响应(图4d、4e),开关比超过2×10⁴,450 nm下最大响应度30.1 A W⁻¹(图4f)、探测率8.65×10¹² Jones,与已报道二维有机单晶光电探测器相比具竞争力(图4g),并成功用于“FJIRSM”图案和复杂花朵图案的宽带成像,显示其在柔性宽带光探测与红外成像中的应用潜力(图4h–j)。
图4 基于所制备准二维PPA单晶薄膜的光探测器性能。a PPA光电器件示意图。b PPA光电探测器的能带图。c PPA光电探测器在405 nm激光下随激光功率密度变化的Ids–Vds曲线。插图:不同激光功率强度下提取的Ids。d 不同光波长下PPA光电探测器的Id–Vd曲线。e 光开关特性。f 开关比和响应度。g 响应度和探测率与其他已报道二维有机单晶光电探测器的比较。h 成像系统示意图。i 不同激光波长下“FJIRSM”图像的相应电流等高线映射。j 不同激光波长下模拟复杂花朵图像的映射。
综上,该工作通过气–固界面聚合将单体传输与链传播解耦,在Cu/CuOx表面诱导定向π–π堆叠组装,获得具有左旋顺式–反式螺旋构象和长程结晶有序的准二维PPA单晶纳米带,并在理想完全伸展链模型下给出约3.7×10⁹ g mol⁻¹的几何估算分子量上限。该方法不仅为PPA体系提供了高结晶、宽带光响应的材料平台,也为克服共轭聚合物中分子量增长与结构有序之间的内在权衡建立了框架,为低维晶态聚合物半导体在柔性光电子和可编程手性材料中的应用提供了新思路。
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发布时间:2026-11-07 11:51:20
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